電界放出形走査電子顕微鏡（FE-SEM）を設置いたしました

このたび熊本大学のご協力により、工学部機械分野の小林重昭研究室へ電界放出形走査電子顕微鏡（FE-SEM）を設置いたしました。この電界放出形走査電子顕微鏡は細い電子線を試料に照射し、試料表面から放出された電子（二次電子、反射電子など）やX線などを検出することにより、表面分析や元素分析を行なうことができます。下の写真は、ナノ結晶金属の組織と金属の破壊の様子（破断面写真）を撮影したものです。今後の研究活動に活用させていただきます。