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電界放出形走査電子顕微鏡(FE-SEM)を設置いたしました

このたび熊本大学のご協力により、工学部機械分野の小林重昭研究室へ電界放出形走査電子顕微鏡(FE-SEM)を設置いたしました。この電界放出形走査電子顕微鏡は細い電子線を試料に照射し、試料表面から放出された電子(二次電子、反射電子など)やX線などを検出することにより、表面分析や元素分析を行なうことができます。下の写真は、ナノ結晶金属の組織と金属の破壊の様子(破断面写真)を撮影したものです。今後の研究活動に活用させていただきます。


日立製作所製電界放出形走査型電子顕微鏡 S-4200型と、その撮影画像
左:ナノ結晶ニッケルの異常粒成長 右:多結晶ニッケルの延性破壊と偏析脆性破壊

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